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主题:视觉成像中偏振片的运用 发布新帖 回复该帖
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视觉成像中偏振片的运用
随着工业自动化行业的不断壮大,以及我国自动化技术日趋成熟,越来越多的行业由原来的传统生产模式转变为自动化生产模式。例如电子行业,食品行业,医药行业等等。
传统工业检测利用人眼对产品外观进行观察并根据对良品/次品的判断经验,来区分产品的好坏。而自动化行业则利用机器视觉成像,并对图像进行软件分析比对,利用PLC控制Robot对产品进行分类。 在利用自动化技术对产品进行检测时,图像成为整个检测过程中最为关键的一步。
我们成像过程中,为了得到一副均匀性好,对比度高的图片,在视觉成像时,我们会用视觉光源进行打光,以便得到便于软件处理的图片。选用合适的光源,一般情况下都能得到一副好的图像,但有时由于产品的特殊材质而很难得到一副好的图像。
例如光源照在光滑的非金属表面上,光滑的非金属表面在一定角度下反射形成的眩光是偏振光,而许多偏振光在成像中是有害的,使我们看不到清晰图像。能够滤除偏振光的滤镜叫做偏振镜。普通的偏振镜叫做线偏振镜(PL镜)。把偏振镜装到镜头的前端,仔细旋转偏振镜,使得有害眩光减至最小甚至消失,这样就能拍摄出没有眩光的照片了。如下图1、图2的对比图片:

图1:没有使用偏振镜拍摄的物体 图2:使用偏振镜拍摄的物体

下面是我司利用偏振原理做的一个药品检测的实验图片:
在没有使用偏振片时,打光所得的图像效果如图3所示:

使用偏振片之后,能得到非常均匀的效果图片:
所以利用偏振片,在某些场合能大大提高图像质量,达到检测的目的。

视觉成像中偏振片的运用


1/9/2013 11:23:00 AM  [楼主]  回复

KNGTECH 回复:视觉成像中偏振片的运用
德商HTT为半导体晶圆ID读取市场推出WID110型号读取器,为技术革新型产品。采用IOSS专利技术之RGB(红、绿、蓝)三色光源和五类光源模式相匹配,对于受到前制程严重影响的晶圆ID仍可以从容读取,如Thin Film等工艺后造成的ID颜色变异、ID缺失等挑战性读取任务。

您使用的晶圆ID读取工具是否有以下困难,如果有类似困难,是时候选择更先进的WID110为您排除困难
1. OCR读取错误/乱码
2. ID读取失败,无法找到稳定读取的参数设置
3. ID读取收到外界光源干扰,无法进行稳定读取,读取可靠性低
4. OCR/DMR读取不一致,无法校验
5. 因为读取器能力有限,不得不放弃自动读取而采用人工读取,设备使用率大大降低

此款wafer ID reader已经成功取代客户现有机台上的旧款Wafer ID读取器,并将设备性能提高到最高水平,我们已经成功升级的部分设备种类如下:
1. Wafer Prober 晶圆测试探针台
Accretech/TSK 机型:UF200, UF190, UF2000, UF3000, FP190/200 等
EG Electroglas机型: EG4090, EG4080, EG6000, EG2001, EG2010 等
TEL和KLA 机型: TEL P8/XL, P12/Precio, KLA1007 等
2. Wafer Sorter 晶圆分选机/分类机
3. Wafer Marker 晶圆打标机
4. Wafer Inspection/Measurement 晶圆测试机/量测机
5. CVD 化学气相沉积
6. Molding system 封装注塑机
7. Wafer Mounter 晶圆贴膜机
8. Wafer Packer 晶圆包装机

IOSS WID110晶圆ID读取器开发目的即为应对半导体工业的超高技术要求,可轻松读码任何wafer材料上的OCR、Bar Code、Data Matrix和QR code等各类晶圆ID。IOSS WID110晶圆读码器建立了读取结果的高质量标准和可靠性标准。系统集成化设计和自身配备的系统亦然能够达成最高的读取率和客户认证的可靠性。

(1)最先进的专业级光学
需要感谢IOSS专利光学系统,在RGB三色光源系统工作时,任何的Wafer ID都无法遁形。并能够标准化地读取super-soft mark, ultra thin coating和蓝宝石/GaAs/InP/Ge等各类材质晶圆,全自动直观的亮区(bright field)和多种暗区(dark field)为用户提供了巨大数量的多样性光源,多至15种的光源模式和自动调整功能可以为不同应用找出最佳的光源设置,基于最出色的内外光源集成,意味着可以轻松应对未来的各种应用需求。可选配SD110型号触摸屏以获取实时图像并手动快速调节设置。

(2)不受限制的读取算法
WID110使得100%晶圆最终成为现实。通过长期的经验证明我们的读取算法可以应对各种晶圆上的各类ID。系统可以读取各种字体甚至包括用户客制化的输出格式。读取结果可以被数据库自动检查以达到完美性能,我们的算法被半导体客户证实为具有出色的可靠性。

(3)最快速的读取表现
WID110是目前半导体领域内最先进的系统,性能非常的强大和可靠。采用高性能处理器,WID110实现了高性能的图像分析并输出极为可靠的读取结果,而这一切仅在瞬间完成。

(4)先进且自动的参数最优化
作为软件的特点,WID110最优化参数对最多需求的晶圆ID读取。可以在一个JOB设置内一次性读取多种ID形式。灵活的参数处理提供了更多的选择来执行特殊的读取需求。WID110可以通过接入数据库实现读取结果的自动改变。每一个激发器都可以涵盖高达10,000种不同的参数设置。两个读取器可以在一个界面同时工作,去读取例如正/反两面(master/slave)功能,WID110系统工作不需要操作人员介入。

(5)灵活性,易于安装整合,最高水平的技术服务
WID110能够非常容易地安装整合到自动化设备上,占用空间也很小。WID110是独立于主机台软件系统进行工作的,采用的软件版本的界面十分易懂。要感谢十分紧凑的设计和提供的多种光学配件,WID110可以安装到任何晶圆process设备和handling设备。我们提供顶级的技术支持和服务,已经被已有的广泛客户群所认同并支持。

如需要更多信息或需求样机评估请联络楷奈基贸易(上海)有限公司-半导体事业部 sales@kng-tech.com, www.kng-tech.com


11/25/2013 11:42:00 AM  1楼  回复

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